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            自動化傳函測試儀KALEO MTF

            簡要描述:自動化傳函測試儀KALEO MTF可以全自動測試透鏡的傳遞函數、像差等品質,具備自動進樣、自動對焦、自動離軸測試等功能,是生產線小批量鏡頭QC/ 篩選的理想設備。

            • 產品型號:
            • 廠商性質:代理商
            • 更新時間:2024-11-28
            • 訪  問  量:1888
            詳細介紹
            品牌其他品牌價格區間面議
            組成要素固體激光器產品及設備產地類別進口
            應用領域化工,石油,電子,交通

            自動化傳函測試儀KALEO MTF可以全自動測試透鏡的傳遞函數、像差等品質,具備自動進樣、自動對焦、自動離軸測試等功能,是生產線小批量鏡頭QC/ 篩選的理想設備。

            測試功能:

            在軸及離軸MTF

            越焦MTF

            透過波面畸變(TWE

            Zernike 系數,直達高階系數并具備逐階分析功能

            鏡頭參數:EFL,F#

            OPD

            像散、畸變、場曲、相對照明

            性能優勢:

            單次采集測量,無需標分板;

            全自動測試

            離軸測試無需再次準直

            便利快捷的準直調試

            自動對焦

            手動/自動進樣

            單孔/多孔鏡頭托盤

            高性價比

            等同于干涉儀的確

            直達截止頻率的MTF測量;

            多波長測試(標配RGB+IR

            高品質準直光源

            多方位、多角度測試

             

            自動化傳函測試儀KALEO MTF主要技術指標:

             

            在軸MTF

            精度 <1%

            可重復性 <0.5%

            離軸MTF

            精度 <2%

            可重復性 <1%

            MTF*頻率

            1000 cc/mm

            MTF精度

            短波及中波紅外 ±0.02 / ±0.03

            短波紅外及可見 ±0.01 / ±0.02

            MTF可重復性

            短波及中波紅外 ±0.015

            短波紅外及及可見 ±0.01

            EFL

            精度 1%

            可重復性5% (采用5mm EFL鏡頭測試)

            畸變

            精度 <0.5%

            可重復性 <0.05%

            OPD (在軸)

            精度 20nm rms

            可重復性 <5nm rms

            場曲

            精度 <5um

            可重復性 <1um

            光學設計

            有限或無限遠架構

            波長范圍

            400-1100nm/ 900-1700nm

            3-5um/ 8-14um

            入瞳直徑

            8.8mm

            口徑范圍

            2 200mm

            F#

            > 1.8

            焦距范圍

            5 - 500mm

            法蘭距

            8 - 30mm

            視場

            可達 ±120°

             

            典型應用:

             

            自動駕駛    安防      無人機          消費電子

             

            功能示例:

             

            像差及傳遞函數測量 

            利用455、530、660nm三個波長測試,在-90° ~ 90°視場范圍內均可獲取高質量的結果。 

            l透過波差測量

             

            在任意位置測試透過波差并與Zemax設計值相比較,從而幫助設計工程師高效的獲得優設計。

             

            l實時Zernike 系數測量

             

            可在光學系統對位、調節的過程中實時測試各階Zernike系數;

            可以人為“濾除”某些階次的Zernike系數,以幫助調節人員更好的理解主要像差來源。

             


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