動態干涉儀有別于基于傳統 Fizeau干涉儀的方法，采用位相檢測方法直接構建的動態干涉 儀既不需要移動待測元件多次曝光，也不需要采用偏振等復雜的光學手段，針 對待測元件進行一次測量即可獲得其反射面型或透過波差。
Kaleo-Multiwave多色動態干涉儀可用于光學元件面型檢測、透過波差測試、大型望遠鏡系統測試及實時調整等。大動態范圍像差測試能力使其可測平面 / 球面波而無需中繼鏡，無色差檢測能力允許使用多個波長甚至白光進行測試。Kaleo-Multiwave 集成了可切換波長的準直光源，可以對大口徑鏡片進行直接或對比測量。
注意事項：
1、儀器應放置在干燥、清潔以及無振動的環境中應用。
2、在移動儀器時，為防止導軌變形，應托住底座再進行移動。
3、儀器的光學零件在不用時，應在清潔干燥的器皿中進行存放，以防止發霉。
4、盡量不要去擦拭儀器的反光鏡、分光鏡等，如必須擦拭則應當小心擦拭，利用科學的方法進行清潔。
5、導軌、絲桿、螺母與軸孔部分等傳動部件，應當保持良好的潤滑。因此必要時要使用精密儀表油潤滑。
6、在使用時應避免強旋、硬扳等情況，合理恰當的調整部件。
7、避免劃傷或腐蝕導軌面絲桿，保持其不失油。
